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高壓加速老化試驗箱PCT和HAST試驗箱兩種試驗箱的區(qū)別比較

更新時間:2024-12-11   點擊次數(shù):33次
  高壓加速老化試驗箱PCT和HAST試驗箱在多個方面存在顯著差異,以下是對這兩種試驗箱的詳細(xì)比較:
 
  一、試驗環(huán)境與條件
 
  PCT試驗箱
 
  溫度:通常在110℃-130℃之間,也有設(shè)定為121℃的情況,相對較低。
 
  濕度:接近100%RH,處于飽和高濕狀態(tài)。
 
  壓力:一般在2個大氣壓(即211.6kPa或21.16bar)左右,也有表述為2.1atm的情況。
 
  HAST試驗箱
 
  溫度:一般在110℃-150℃甚至更高,溫度范圍更寬且能達(dá)到更高溫。
 
  濕度:通常在85%RH以上,但一般未達(dá)到飽和狀態(tài),可調(diào)范圍通常為70%~100%RH。
 
  壓力:相對較低,通常在0.2MPa0.5MPa(即25bar)之間。
 
二、試驗?zāi)康呐c應(yīng)用范圍
 
  PCT試驗箱
 
  目的:主要用于評估產(chǎn)品在高溫高濕高壓環(huán)境下的密封性、防潮性能以及材料的耐濕熱老化能力。
 
  應(yīng)用范圍:常用于對電子產(chǎn)品的封裝、塑料材料、涂料等進(jìn)行耐濕熱測試,尤其適用于對密封性要求較高的產(chǎn)品,如電子元器件、電路板、半導(dǎo)體器件等。
 
  HAST試驗箱
 
  目的:更側(cè)重于快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問題,如封裝不良、材料老化、金屬腐蝕等,加速模擬電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的使用情況。
 
  應(yīng)用范圍:廣泛應(yīng)用于電子元器件、集成電路、印刷電路板、電子組裝件等電子產(chǎn)品的可靠性評估,特別是高可靠性要求的航空航天、汽車電子、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域。
 
  三、試驗時間與效果
 
  PCT試驗箱
 
  試驗時間:相對較長,一般需要數(shù)十個小時甚至更長,才能展現(xiàn)產(chǎn)品的老化情況。
 
  效果:由于高濕高壓環(huán)境,對產(chǎn)品的密封性和防潮性能考驗更為嚴(yán)格,能更直接地檢測出產(chǎn)品在濕熱環(huán)境下的潛在問題。
 
  HAST試驗箱
 
  試驗時間:較短,通常為幾十個小時到幾百個小時不等,能在更短時間內(nèi)加速產(chǎn)品老化。
 
  效果:通過更高的溫度和一定的濕度、壓力組合,能快速激發(fā)產(chǎn)品內(nèi)部的各種潛在缺陷,加速產(chǎn)品的失效過程,為產(chǎn)品的改進(jìn)和優(yōu)化提供更迅速的反饋。
 
  四、設(shè)備構(gòu)造與特點
 
  PCT試驗箱
 
  構(gòu)造:一般采用不銹鋼材料或高溫合金材料構(gòu)建,內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計,符合國家安全容器標(biāo)準(zhǔn),可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象。配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸定制。
 
  特點:測試條件相對溫和,但測試時間較長。
 
  HAST試驗箱
 
  構(gòu)造:通常使用耐腐蝕材料如鎳合金等構(gòu)建,同樣采用圓弧內(nèi)膽設(shè)計,并配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架(也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸定制)。在優(yōu)化設(shè)計、做工精細(xì)度、傳感器配置、試樣架設(shè)計以及安全保護(hù)措施等方面也更為先進(jìn)和完善。
 
  特點:測試條件更加嚴(yán)苛,測試時間較短,能快速展現(xiàn)產(chǎn)品的老化情況。
 
  綜上所述,PCT和HAST試驗箱在試驗環(huán)境與條件、試驗?zāi)康呐c應(yīng)用范圍、試驗時間與效果以及設(shè)備構(gòu)造與特點等方面均存在顯著差異。具體選擇哪種老化測試設(shè)備應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的特性和需求來決定。
 

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